Type de sonde AFM: 4XC-NN

Fabricant: OPUS by MikroMasch (https://www.opustips.com)

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€ 431.00* €431.00
4XC-NN-24	24 pcs
€ 882.00* €882.00
4XC-NN-50	50 pcs
€ 1733.00* €1733.00
4XC-NN-100	100 pcs
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Description du produit:

La série 4XC comprends 4 leviers de raideurs différentes pour différents modes de mesure, 2 leviers de chaque côté du support de levier:

500DC – levier contact souple pour mode imagerie AFM

240AC – levier moyennement souple pour mode AC en imagerie AFM sur échantillons ductiles

200AC – levier standard pour mode AC en imagerie AFM

55AC – levier fréquence MHz pour imagerie AFM haute vitesse

La version non recouverte permet une finesse de pointes à l’apex très grande, une inertie chimique et un grand facteur de qualité. Les pointes tétraédriques sont placées avec précision à l’extrémité absolue des leviers. Ceci permet de positionner la pointe avec une extrême précision sur la zone d’intérêt de la surface de l’échantillon.

Modes d'Application:

Spécifications de la Sonde AFM:

Pointe(s) AFM:

Forme	Hauteur de la pointe	déport de pointe	Rayon de courbure de la pointe	Angle complet de cone	Demi-angle de cône
OPUS	14 µm (12 - 16 µm)*	12 - 16 µm*		< 7 nm		0° front, 35° back, <9° side

Levier(s) AFM:

Cant.	Forme	Longueur	Largeur	Epaisseur	Const. de force	Rép. en fréq.
1Contact mode cantilever	Poutre	500 µm (485 - 515 µm)*	30 µm (28 - 32 µm)*	3 µm (2.5 - 3.5 µm)*	0.3 N/m (0.1 - 0.6 N/m)*	17 kHz (11 - 22 kHz)*
2Soft AC mode cantilever	Poutre	240 µm (225 - 255 µm)*	30 µm (28 - 32 µm)*	3 µm (2.5 - 3.5 µm)*	2.5 N/m (0.75 - 5.3 N/m)*	75 kHz (50 - 100 kHz)*
3Standard AC mode cantilever	Poutre	175 µm (160 - 190 µm)*	40 µm (38 - 42 µm)*	3 µm (2.5 - 3.5 µm)*	9 N/m (2.8 - 21 N/m)*	150 kHz (100 - 200 kHz)*
4High frequency AC mode cantilever	Poutre	65 µm (50 - 80 µm)*	31 µm (29 - 33 µm)*	3 µm (2.5 - 3.5 µm)*	100 N/m (35 - 215 N/m)*	1.2 MHz (0.65 - 1.85 MHz)*

* Gamme typique