Echantillon de caractérisation de pointes PA01

Echantillon de caractérisation de la forme de pointe comprenant des nanostructures pyramidales abruptes et dures. Les pyramides sont de base triangulaire avec une longueur de cotés dans le domaine de 50-100nm et une hauteur de 50-150nm.

Le rayon de courbure du bord le plus affiné est de 5nm.

Les structures du PA01 sont recouvertes d’une couche hautement résistante à l’usure.

• pyramide base 50-100nm
• pyramide hauteur 50-150nm
• plus petit rayon de bord < 5nm
• surface active 5x5mm
• dimensions du standard 5x5x0.7mm
• disponible monté sur une plaque métallique ronde de 12mm (PA01) ou non-monté (PA01/NM)

Application

La forme exacte de la pointe AFM est très importante lorsque l’on veut obtenir des images de haute qualité et précision. Comme l’usage de pointes avec des rayons de courbure de l’ordre du nanomètre devient de plus en plus répandu, il devient nécessaire d’utiliser des structures périodiques avec des tranchants et des résolutions similaires ou meilleurs afin d’estimer les paramètres de la pointe.

Une image AFM des structures de PA01 est présentée ci-dessus. L’image AFM a été obtenue avec une sonde OPUS 240AC-NA. Taille de l’image 1x1µm²